A B.O.D. danificou o experimento da pesquisadora por atingir 50 .C e estar configurada para 25 .C. Deve-se recolher pois, não apresentou o defeito nos testes realizados tratando-se portanto, de defeito intermitente. Este tipo de defeito ocasiona testes com demanda de tempo e atenção muito intensos.
Observe que o fabricante raspa a descrição dos componentes eletrônicos impossibilitando a manutenção com segurança.
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